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Online Archiv

das «unbekannte» Phänomen in Schaltungstechnik und Ausfallanalyse

11. Juni 2012, 9:00 bis 18:00 Uhr

Empa, Dübendorf, AKADEMIE

Zielpublikum

Entwickler von Industrie- und Automotive-Elektronik

ReferentInnen

div. (siehe Programm)

Zielpublikum

Entwickler von Industrie- und Automotive-Elektronik

Auskunft

s. Box rechts oben

Inhalt

Die Diagnose «Electrical Overstress» (EOS) wird oft und nicht ganz zu Unrecht als eine Umschreibung für eine «Kapitulation» der Ausfallanalyse verstanden. Die Ursachen für EOS sind extrem vielseitig und reichen von ESD über EMV bis hin zu problematischen Schaltungsauslegungen, meist im Zusammenhang mit induktiven Lasten und/oder Schaltvorgängen im Hochlastbereich oder an den Schnittstellen zwischen Mikro- und Leistungselektronik.


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